T342系列栅极电阻(Rg)电容(Ciss/Crss/Coss)测试系统，用于对MOSFET/IGBT等半导体器件进行测试。它通过施加高频交流信号于被测器件栅极，采样经过被测器件的电压电流来计算出电容电阻。

      本系统测试标准符合美军标(MIL-STD-750E)，且具有全数字化采样单元，能完整的记录测试数据及波形,有利于进行后续不良分析。

产品特点
     符合美军标(MIL-STD-750E),兼有定频测试和
  扫频测试功能。

    本系统可用于产品分析使用，具有完善的关系
曲线测试和显示及处理能力。
    本系统小巧的体积便于对高频信号的处理,
便于生产线现场设备的布局和放置。
    本系统可与T861(DC)系统和T33X雪崩系统组
合测试。
    本系统可用于FT和CP批量生产性测试。
    本系统可实现双Die器件测试(选配)。
    极间电容扫描功能：能够自动产生Crss,Ciss,
Coss的扫描曲线图(包含对数显示和线性显示)。